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日本SANKO山高膜厚計磁感應測量原理

日期:2019-08-23 21:32
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摘要:
日本SANKO山高膜厚計磁感應測量原理
  日本SANKO山高膜厚計采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的産品采用指針式表頭,測量感應電動勢的大小,儀器將該信號放大後來指示覆層厚度。一些電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術,利用磁阻來調制測量信號。還采用磚利設計的集成電路,引入微機,使測量精度和重現性有了大幅度的提高(幾乎達一個數量級)。現代的磁感應測厚儀,分辨率達到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。
  日本SANKO山高膜厚計磁性原理測厚儀可應用來**測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業的各種防腐塗層。

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